SEM4000X（G2）扫描电镜作为微区分析检测场景的理想选择，在保证稳定运行与便捷操作的基础上，通过集成了多探测器系统与样品减速功能，突破低加速电压下的分辨率限制。在兼顾性能可靠性与使用成本的前提下，为现代材料分析实验室提供可靠的解决方案
立即咨询多探测器系统
突破单一信号局限，可实现形貌与成分衬度同屏呈现，帮助用户在单次观测中获取样品的表面结构与材料成分分布特征。
插入式背散射电子探测器
均匀抛光的多晶材料中，背散射电子强度由电子束与晶面取向决定，取向差越大晶粒越亮，可表征晶粒取向分布。
镜筒内电子探测器（lnlens）
SBA-15分子筛/500 V/未喷金/样品台减速
仓室内二次电子探测器（ETD）
BN陶瓷纳米片，利用ETD探测器表征片层结构。
插入式扫描透射电子探测器（STEM）
