热膨胀仪

型号选择

DIL 502 Expedis® Supreme

DIL 502 Expedis® Select

DIL 502 Expedis® Classic

立即咨询
产品详情

DIL基本功能

软化点检测

软件控制的力的调整(包括:线性力,恒定力,斜变力,步阶力)

调制力

密度测量

用于温度校正和检测热效应的c-DTA® 功能

速率控制烧结RCS

曲线识别,通过数据库对比识别未知的ΔL/L0曲线

密度测量,能够测量样品密度的连续变化,可应用于固体、液体、熔体、粘稠样品(如涂料),以及用于计算各向异性材料的体膨胀。


丰富的附件选择

样品支架系统不同材质的样品支架、样品容器

OTS系统对于在高温下易于氧化的样品,可以配备 OTS™(Oxygen Trap System)附件,吸附吹扫气氛中的杂质氧,有效降低样品氧化的可能性。

真空泵多种真空泵,可保证体系纯净气氛,或在真空氛围下测试。

 

DIL 502 Expedis® Select技术参数为例:

温度范围-180 ... 2000°C(不同炉体)

升温速率0.001 … 100 K/min(不同炉体)

测试气氛动态或静态;氧化、还原、惰性、真空

样品形态固体、液体、粉末

样品载荷10mN ... 3N,可变,可调制(选配)

选配扩展功能c-DTA®、谱图检索、速率控制烧结

量程±10000μm

测量分辨率1nm

测试模式单样品/双样品,样品长度自动检测

独创的Multitouch技术标配

独创的Nanoeye位移传感及载荷控制技术标配

双炉体选配

  • 首页
  • 咨询电话
  • 返回顶部